基于LK8830的IC功能测试的设计与实现  

作　　者：罗瑜 樊赫 

机构地区：[1]陕西工业职业技术学院电气工程学院,陕西咸阳712000 [2]西北机电工程研究所,陕西咸阳712099

出　　处：《电子制作》2024年第16期106-109,共4页Practical Electronics

基　　金：陕西省职业技术教育学会2024年度职业教育教学改革研究课题(2024SZX003)。

摘　　要：集成电路功能测试是确保IC产品符合设计与性能标准的重要环节。本文以LK8830作为测试平台,以74HC245为例,通过向待测芯片施加电压信号,监视输出来直接验证逻辑功能,为提高测量精度,设计高覆盖率的测试向量,搭建测量电路,利用测试专用模块函数编写测试程序实现对芯片逻辑功能的测试,测试结果可直接通过界面显示。实验表明,该测试方案准确可靠,易于实施,保证了数字芯片在实际使用中的可靠性。

关 键 词：集成电路 LK8830平台 数字芯片 功能测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]