基于嵌入式放大电路特性测试平台设计  

作　　者：欧少敏 

机构地区：[1]桂林信息科技学院电子工程学院,广西桂林541004

出　　处：《今日制造与升级》2024年第7期181-184,共4页Manufacture & Upgrading Today

基　　金：2024年度广西高校中青年教师科研基础能力提升项目(2024KY1737)。

摘　　要：放大电路特性对于电路的设计尤为重要,为了解决电路设计人员对所设计的电路特性进行快速测量,设计出放大电路特性检测平台,该平台精简了外围测量电路,提高了测量精度,能够产生1kHz,峰峰值为100mV的正弦波,具有自动测量功能。经过实验测试表明,该平台工作稳定,能够自动测量并显示1kHz下被测电路的输入输出电阻、电压增益、幅频特性,相对误差的绝对值在允许范围内,参数测量精度高,方便实用。

关 键 词：STM32F407VET6 高速ADC 测量电路 分立元件 

分 类 号：TN929.1[电子电信—通信与信息系统]