检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:蔡健平 向刚[2] 徐洪武 王伟 伍招冲 Cai Jianping;Xiang Gang;Xu Hongwu;Wang Wei;Wu Zhaochong(China Aeronautics Standards Institute,Beijing 100071,China;Beijing Aerospace Automatic Control Institute,Beijing 100071,China)
机构地区:[1]中国航天标准化研究所,北京100071 [2]北京航天自动控制研究所,北京100071
出 处:《质量与可靠性》2024年第3期19-22,29,共5页Quality and Reliability
摘 要:为满足当前条件下电子产品长期加电工作寿命指标验证需求,研究了基于系统可靠性模型的长期加电加速寿命试验验证技术。基于电子产品中元器件的失效率,形成加速因子算法和设计试验验证方案的思路。利用该方法,针对某组合线路板设计了验证试验剖面,并实施了试验验证,评估了其长期加电工作寿命。In order to ensure the quality of the long-term life of power-on electric products,it is necessary to develop a corresponding accelerated life test(ALT)technology.Based on the system reliability model,an accelerated factor(AF)algorithm is developed and calculated by component failure rates of working and testing conditions,and a method of test verification method is put forward.An example of a control unit is given and the method is proven valid.
分 类 号:TN06[电子电信—物理电子学]
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