高密度电阻率成像法渗漏检测效果分析  

Leak Detection Effectiveness Analysis of High-Density Resistivity Imaging Method

作　　者：姚志 YAO Zhi

机构地区：[1]天津工程咨询有限公司,天津300221

出　　处：《建筑科技》2024年第10期53-56,65,共5页Building Technology

摘　　要：基坑围护渗漏问题是深基坑施工中常见的风险问题。以天津市轨道交通7号线肿瘤医院站工程建设为例,基于高密度电阻率成像法的技术原理,阐述采用高密度电阻率成像法对基坑围护结构渗漏进行探测的过程,并对结果进行分析。探测结果表明:基坑围护结构整体上防渗效果较好,不存在较大的渗漏异常,但部分剖面存在微渗异常,异常深度较大。

关 键 词：高密度电阻率成像法 基坑围护结构 渗漏模型 

分 类 号：TU753[建筑科学—建筑技术科学]