低鉴相泄漏取样锁相介质振荡器研究  

作　　者：廖文生 王增双 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050057

出　　处：《电子元器件与信息技术》2024年第9期1-3,共3页Electronic Component and Information Technology

摘　　要：鉴相泄漏抑制是取样锁相介质振荡器的一个重要指标,微波通信技术的发展对鉴相泄漏抑制提出了更高的要求。本文研究了鉴相泄漏的产生机理,通过耦合隔离、电源滤波、空间隔离等方面来抑制鉴相泄漏,最后基于混合集成电路和印制板相结合的方式设计了一款低鉴相泄漏的取样锁相介质振荡器(PDRO)。测试结果表明:设计的取样锁相介质振荡器产品尺寸为40mm×40mm×12.8mm,参考频率为100MHz,输出频率为9.5GHz,鉴相泄漏抑制优于-80dBc,达到了降低鉴相泄漏的目的。

关 键 词：鉴相泄漏抑制 介质振荡器 电子设备 

分 类 号：TN752[电子电信—电路与系统]