基于红外波检测的隐身涂层损伤检测技术  

作　　者：李阳[1] 刘伟光[1] 王海波 许航航[1] 

机构地区：[1]西安应用光学研究所,陕西西安710065

出　　处：《电子元器件与信息技术》2024年第9期4-6,共3页Electronic Component and Information Technology

摘　　要：隐身涂层出现损伤后会降低设备使用性能,加强对其损伤的检测有助于及时发现风险并加以解决。本次研究概述了红外隐身涂层的基本原理及构成要素,并在剖析红外隐身涂层损伤成因的基础上,分别从背景技术、检测需求、技术方案、具体实施四个方面,对一种基于红外波检测的隐身涂层损伤检测技术进行了具体探讨。

关 键 词：红外波检测 隐身涂层 损伤检测技术 

分 类 号：TB39[一般工业技术—材料科学与工程]