微区线扫描和面扫描分析技术在文物保护与科技考古中的应用  

作　　者：吴金涛 

机构地区：[1]郑州市文物考古研究院,河南郑州450000

出　　处：《东方收藏》2024年第9期58-61,共4页Oriental Collection

摘　　要：随着科学技术的不断发展,科技赋能文物保护与考古研究工作。文章基于微区线扫描和面扫描分析技术的特点,介绍微区XRF、同步辐射X射线荧光、扫描电子显微镜能谱法、电子探针分析法、激光剥蚀ICPMS等常见的仪器设备在文物保护和考古领域中的应用,分析其优缺点及未来发展方向,以期微区线扫描和面扫描分析技术在文物保护与科技考古工作中有更广阔的应用前景。

关 键 词：线扫描 面扫描 文物保护 考古 

分 类 号：K87[历史地理—考古学及博物馆学]