基于光电子技术的光学元件可靠性测评方法研究  

作　　者：沈尧舜 李春亚[2] 

机构地区：[1]上海大学微电子学院,上海市200444 [2]上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室,上海市200072

出　　处：《进展》2024年第21期80-82,共3页

摘　　要：本研究通过光电子技术研究了光学元件可靠性的研究与分析,提出并建立了一种光学元件可靠性测评方法。通过试用压力测试和寿命试验两种方法相互结合的方法,全方位、精准地表述和描述光学元件的可靠性,可以直接被产品研发过程中的工程人员了解甚至用于评判样品的非正常工作状态下能否正常工作。此方法不仅可以为光学元件不同环境下产品的适用能力及稳定程度进行可靠性分析评价而达到定量化评价光学元件的可靠性,还能为产品设计和生产中光学元件给予充足可靠性分析依据,有助于提高光电产品整体性能稳定性。

关 键 词：光电子技术 光学元件 可靠性评估 环境压力测试 生存分析 

分 类 号：O431[机械工程—光学工程]