一种SOC芯片的SLT测试硬件系统设计  

Design of an SLT Testing Hardware System for SOC Chips

作　　者：聂震坤 NIE Zhenkun(Rockchip Electronics Co.,Ltd.Fuzhou 350001,Fujian,China)

机构地区：[1]瑞芯微电子股份有限公司,福建福州350001

出　　处：《市场监管与质量技术研究》2024年第5期99-101,共3页Market Regulation and Quality Technology Research

摘　　要：文中提出了一种SOC芯片系统级测试的新硬件测试系统。新系统引入FPGA作为辅助测试的芯片,使用PC作为芯片分选机和测试硬件之间的媒介进行测试,并记录测试数据。新硬件系统导入后,使用现有的SOC芯片作为样本,从测试覆盖率、测试时间、不良分析三个方面展现芯片品质管控中的收益。This article proposes a new hardware testing system for system-level testing of SOC chips.The new system introduces FPGA as an auxiliary testing chip,uses PC as the medium between the chip sorting machine and the testing hardware for testing,and records the test data.After the introduction of the new hardware system,the existing SOC chips are used as samples to demonstrate the benefits of chip quality control from testing coverage,testing time,and defect analysis.

关 键 词：系统芯片 芯片测试 硬件设计 品质改善 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]