功率驱动芯片自动测试系统的硬件设计与研究  

作　　者：吴迪 

机构地区：[1]中船海为高科技有限公司,河南郑州450066

出　　处：《今日制造与升级》2024年第10期41-43,共3页Manufacture & Upgrading Today

摘　　要：文章旨在设计一种自动化测试系统用硬件,用于全面测试功率驱动芯片。通过详细设计多个核心模块(如开短路测试、静态参数测试和动态参数测试等),实现了对IR2136系列功率驱动芯片的自动化测试,并表现出良好的测试结果重复性和准确性。所设计的自动测试系统不仅能够提高测试效率和准确性,还具备故障处理能力,确保了测试过程的安全性和系统的可靠性。此外,该系统通过精确的故障检测与处理模块增强了整体的鲁棒性,对保障功率驱动芯片质量具有重要意义。

关 键 词：驱动芯片 自动测试系统 硬件设计 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]