光缆中的氢损效应  被引量:2

Hydrogen induced loss in optical fiber cables

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作  者:王临堂[1] 

机构地区:[1]上海电缆研究所

出  处:《电线电缆》2002年第6期3-4,共2页Wire & Cable

摘  要:该文简述了光缆中氢损的机理、氢损的来源和光缆用材料析氢量的检测 ;根据新的 IEC规范 ,介绍了相关光纤氢老化试验的程序和各种结构的光缆在不同应用环境下氢损效应评价必要性的导则。The mechanism and origin of hydrogen induced loss in optical fiber cables as well as detection of hydrogen escape from cable materials are preented. The necessary guidance for the test procedure for hydrogen ageing of optical fibers and evaluation of hydrogen loss in individual cable constructions under different applications is described with reference to new IEC standards.

关 键 词:光缆 氢损效应 光纤 IEC规范 单模光缆 多模光缆 

分 类 号:TN818[电子电信—信息与通信工程]

 

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