晶体晶片的测试技术  

作　　者：于为群[1] 窦莹[1] 刘喜阳[1] 任文龙[1] 

机构地区：[1]国营第七九五厂计量所,陕西咸阳712099

出　　处：《工业计量》2011年第S2期41-43,共3页Industrial Metrology

摘　　要：晶片是晶体的主要材料,加工的质量直接影响着晶体的质量优劣,其加工要靠研磨料来完成,在一边研磨一边测试的过程中,表面附着物会影响晶片频率的测试,测试条件差,需要有宽频测试和激励强的电路完成晶片研磨过程的频率测试。

关 键 词：晶体 晶片 测试 

分 类 号：TQ127.2[化学工程—无机化工]