LD参数连续测试系统研究  

Study on the ContinuousTesting Tystem of LD

作　　者：亢俊健[1] 王大成[2] 姚升武 焦长利 刘鹏鹏 安海忠[4] 苏美开 

机构地区：[1]中国矿业大学机电工程系,北京100083 [2]中国地质大学工程技术学院,北京100083 [3]海特光电有限责任公司,北京100083 [4]北京理工大学光电工程系 [5]机电工程学院,北京100081

出　　处：《激光杂志》2002年第6期28-29,共2页Laser Journal

摘　　要：本文介绍了一种新型半导体激光二极管 (LD)参数连续测试系统 ,它采用了高精度的数据采集技术、超强的数据处理技术及精密机械定位技术 ,可对LD的P -I和V -I曲线及相关参数进行连续测试、显示、存储、管理和打印 ,测量速度快 ,测量精度高 。This paper introduces a new type of continuous testing system of LD,it adopts the technology of high precise data sampling,strong data processing and the technology of exact mechanical orientation.The system can not only plot power-current curve and voltage-current curve of LD,and test multi-parameters,but also test continuously,display,storage,manage and print.In addition,it measures quickly and highly precision,manipulate conveniently.

关 键 词：半导体激光二极管 参数测试 连续测试 光纤通信 

分 类 号：TN929.11[电子电信—通信与信息系统]