检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:付海涛 王俊涛 王昌水 FU Haitao;WANG Juntao;WANG Changshui(Shanghai Meadville Science&Technology Co.,Ltd.,Shanghai 201613,China)
出 处:《电子工艺技术》2025年第1期15-17,35,共4页Electronics Process Technology
摘 要:随着电子器件日益轻薄化、微型化,集成电路封装基板及印制电路板的线路精细程度不断提升。采用PSAP工艺,使用常规的除胶渣和化学铜药水情况下可以制作15μm/15μm精细线路。在PSAP工艺制程中发现盲孔孔底裂缝的问题,对不同的层压前处理药水体系和不同的半固化片进行全排列试验,结果显示层压前处理药水体系是影响盲孔孔底裂缝的主要因素,选择T型药水可以解决盲孔孔底裂缝的问题。With the increasing thinness and miniaturization of electronic devices,the line precision of IC substrates and printed circuit boards continues to improve.The PSAP process is adopted to make the 15μm/15μm fine circuit under the condition of using conventional Desmear and PTH solution.In addition,the problem of cracks at the bottom of blind via is found in the PSAP process.The full array experiments are carried out on the chemical of pretreatment and the type of prepreg.The experimental results show that the chemical of pretreatment is the main factor affecting the cracks,and the selection of T type chemical can solve the problem of cracks.
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
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