自动化测试机开短路测试系统搭建和应用  

作　　者：蔡晓峰 余凯 陆逸敏 徐秋雨 

机构地区：[1]宏茂微电子(上海)有限公司

出　　处：《中国集成电路》2024年第12期86-89,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：随着半导体行业的发展,自动化测试机中(ATE)的开短路(Open/Short)测试系统在传统测试生产中扮演着越来越关键的角色。本文概述了集成电路自动测试机的基本概念和核心功能,并详细介绍开短路测试系统的搭建过程,包括硬件选择、软件配置和系统集成。文章强调了该系统在自动缺陷检测、测试数据分析以及智能分类与分拣方面的应用,这些应用为传统测试生产带来了显著的效率提升和质量改进。

关 键 词：自动化测试机 开短路测试 硬件架构 软件配置 系统集成 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]