基于红外热成像仪的电视芯片过热检测与散热研究  

作　　者：胡雪菲 袁义 

机构地区：[1]广东长虹电子有限公司,广东省中山市528427

出　　处：《家电维修》2025年第2期9-11,共3页Appliance Repairing

摘　　要：在现代电视技术中,芯片过热是影响设备性能和寿命的关键因素之一。随着电视芯片功能的日益增强,其发热量也随之增加,如不加以有效管理,可能导致电视机故障甚至损坏。红外热成像仪作为一种非接触式温度测量工具,能够实时监测和记录设备内部的温度分布,帮助技术人员诊断和解决过热问题。该技术不仅提供了一种直观的过热识别方法,还能够帮助研究人员在不干扰设备正常运行的前提下,精确地评估散热系统的效率。本文介绍了红外热成像仪的工作原理,分析了电视芯片过热的潜在成因,阐述了使用红外热成像仪进行过热检测的技术方法,并提出了新型散热解决方案。

关 键 词：红外热成像仪 电视芯片 过热检测 散热技术 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]