检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:李鹏涛(译) 韩忠杰(译) 王琢(译) 马园林(译)
机构地区:[1]陕西省计量科学研究院
出 处:《工业计量》2025年第1期100-116,共17页Industrial Metrology
摘 要:§27后续检定(1)后续检定是指在规定测量仪器上进行首次检定或维修后进行的每次检定。(2)规定测量仪器的用户必须在检定到期前至少30天通过书面命令安排后续检定,并始终在检定到期前按照§25 (12)(b)至(e)的规定到期。(3)研究所、指定组织或授权主体根据第2款的内容在提交申请后15天内同意或拒绝申请。拒绝申请必须有正当理由。如果研究所、指定组织或授权主体拒绝申请,规定的测量仪器用户必须按照第2段的规定进行相应的后续检定,但第2段规定的时间不适用于此检定。
关 键 词:测量仪器 计量法 后续检定 首次检定 正当理由 授权主体
分 类 号:TB9[一般工业技术—计量学]
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