基于加权网络模型的半导体集成电路可靠性评价方法研究  

作　　者：曹山辉 

机构地区：[1]宁德时代新能源科技股份有限公司,福建宁德352000

出　　处：《电子元器件与信息技术》2024年第12期1-3,共3页Electronic Component and Information Technology

摘　　要：可靠性评价是半导体集成电路生产过程中必不可少的环节,是衡量电子设备性能优劣的关键指标之一,但现行方法评价精度、在实际应用中评价与实际交并比、置信度都较低,无法达到预期的评价效果,为此本文提出基于加权网络模型的半导体集成电路可靠性评价方法研究。本文选择元件失效率、逻辑门差错概率,以及导线故障概率为评价指标,以此建立评价指标体系,在对评价指标数据进行预处理后,采用加权网络模型确定指标权重系数,通过对半导体集成电路可靠性进行综合评价,得到可靠度与可靠性等级,从而实现基于加权网络模型的半导体集成电路可靠性评价。实验结果表明,该设计方法评价与实际交并比、置信度均在0.95以上,可以实现对半导体集成电路可靠性的精准评价。

关 键 词：加权网络模型 半导体集成电路 元件失效率 差错概率 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]