闪存芯片的取证难题:从可靠性角度分析和优化  

The Forensic Challenge of Flash Memory Chips:Analysis and Optimization from a Reliability Perspective

作  者:胡海华 沈芙辉 童宇[1] 赵娜 HU Haihua;SHEN Fuhui;TONG Yu;ZHAO Na(Department of Information Technology,Hunan Police Academy,Changsha 410138,China;School of Information Engineering,Guangdong University of Technology,Guangzhou 510006,China)

机构地区:[1]湖南警察学院信息技术(网监)系,湖南长沙410138 [2]广东工业大学信息工程学院,广东广州510006

出  处:《中国人民公安大学学报(自然科学版)》2025年第1期89-94,共6页Journal of People’s Public Security University of China(Science and Technology)

基  金:湖南省教育厅重点项目(22A0692);教育部网络安全与执法专业虚拟教研室课题(WAXVKF-2203)。

摘  要:闪存芯片因其体积密度高、读写速度快等优势,在移动电子设备中得到广泛应用。然而,闪存芯片在数据存储和维护方面存在不可靠性,这对取证技术提出新挑战。针对上述问题,提出了一种数据迁移检测方案,主要依靠权衡数据迁移次数和纠错码译码可迭代次数来实现取证数据完整性。实验结果显示该方案在不影响数据迁移次数的情况下,还能保证数据可靠性。该方案为公安机关在硬盘证据的收集环境中提供了有力支持。Flash memory chips are widely used in mobile electronic devices due to their advantages such as high storage density and fast read-write speed.However,flash memory chips exhibit unreliability in data storage and maintenance,posing new challenges to forensic technology.To address this issue,a data migration detection scheme has been proposed,primarily relying on the trade-off between the number of data migrations and iterations of error-correcting code decoding to ensure the integrity of forensic data.The experimental results show that this scheme can ensure data reliability without affecting the number of data migrations,thereby guaranteeing the integrity of electronic evidence collected by law enforcement agencies.

关 键 词:闪存芯片 硬盘取证 纠错码 电子取证 数据完整性 

分 类 号:D035.39[政治法律—政治学]

 

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