左心耳封堵术后残余漏的研究进展  

Progress of peri-device leak following left atrial appendage closure

作　　者：陈科宇 王华 秦永文 白元 Chen Keyu;Wang Hua;Qin Yongwen;Bai Yuan(Department of Cardiology,the First Affiliated Hospital of Naval Medical University,Shanghai 200433,China)

机构地区：[1]海军军医大学第一附属医院心血管内科,上海200433

出　　处：《中华心血管病杂志》2025年第2期192-196,共5页Chinese Journal of Cardiology

基　　金：长海医院基础研究专项面上培育项目(2021JCMS20)。

摘　　要：随着人口老龄化进程的加剧,心房颤动的发病率越来越高,左心耳封堵术作为非瓣膜性心房颤动患者卒中预防的有效治疗方案之一,应用也越来越广泛。在对植入左心耳封堵装置的患者随访过程中发现,封堵器周围残余漏并不少见。目前,对于封堵器周围残余漏的存在是否会导致患者术后发生血栓栓塞等不良事件开展了较多的研究。该文对封堵器残余漏的发生率、发生机制、检查与评估、预后影响和应对措施等作一综述。

关 键 词：心房颤动 残余漏 左心耳封堵术 卒中 

分 类 号：R541.75[医药卫生—心血管疾病]