双层探测器光谱CT在颅脑病变中的应用:穿刺活检1例  

Application of dual-layer spectral detector CT in intracranial space-occupying lesions:one case in needle biopsy

作　　者：张豪杰 高飞[1] 王猛[1] 杜可朴[1] 周志刚[1] ZHANG Haojie;GAO Fei;WANG Meng;DU Kepu;ZHOU Zhigang(Department of Radiology,First Affiliated Hospital of Zhengzhou University,Zhengzhou,Henan Province 450052,China)

机构地区：[1]郑州大学第一附属医院放射科,河南郑州450052

出　　处：《介入放射学杂志》2025年第2期223-225,共3页Journal of Interventional Radiology

摘　　要：颅脑病变的诊断与治疗历来是临床工作中的一个复杂挑战。传统的CT技术虽然在颅脑病变的初步诊断中发挥了重要作用,但其在软组织对比度和病变特异性上的局限性常常导致诊断的不确定性。近年来,双层探测器光谱CT(光谱CT)因其独特的能量分辨能力,为颅脑病变的精准诊断提供了新的可能[1]。作为一项新兴的影像技术,光谱CT能够通过物质分离分辨出不同组织中的特定元素(如钙和碘等),从而增强图像对比度,提升检出病灶的准确性。

关 键 词：体层摄影术 双能量 颅脑病变 穿刺活检 

分 类 号：R651.1[医药卫生—外科学]