基于ATE的运放芯片测试策略  

作　　者：温志贤 褚夫邈 杨红亮 余婷婷 

机构地区：[1]天水师范学院电子信息与电气工程学院,甘肃天水741000

出　　处：《电子制作》2025年第5期118-120,共3页Practical Electronics

基　　金：126kV环保型高压气体绝缘开关的研发(CYZC-2024-58)项目资助。

摘　　要：运算放大器(Operational Amplifier,运放)作为用途十分广泛的器件,对其相关技术指标进行精准且有效的测试是必不可少的。本文提出了针对运放芯片的测试策略,通过对自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE),搭建测试电路,实现运放芯片输入失调电压、共模抑制比和开环电压增益三种参数的测试方法的研究。

关 键 词：运算放大器 STS8200 测试开发 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]