标准发射器温度特性影响及其测量研究  

作　　者：李建成[1] 高天锐 王一宇 冯志维 

机构地区：[1]杭州应用声学研究所,杭州311400

出　　处：《声学与电子工程》2025年第1期30-34,共5页Acoustics and Electronics Engineering

摘　　要：标准发射器在连续工作状态下,其内部压电陶瓷因振动引发的温升效应会显著影响器件性能。为评估这种影响,文章制备了一种高分子基温度薄膜,将其贴合在压电陶瓷的表面,基于正温度系数效应,通过检测其电阻值变化即可反映压电陶瓷的工作温度变化。在此基础上,对标准发射器在不同温度下的输出幅值、谐振频率、电导值进行了测试。测量结果表明,随着标准发射器工作时间延长,压电陶瓷温度呈现先快速上升后逐渐趋稳的变化趋势,标准发射器输出幅值则是先不断降低后逐渐趋稳。该研究可实时监测功率超声和大功率发射换能器的温度变化,提供换能器性能参数变化,保护和延长发射换能器的使用寿命。

关 键 词：正温度系数效应 标准发射器 压电陶瓷 温度 输出特性 

分 类 号：TN383[电子电信—物理电子学]