ISO/IEC JTC1/SC43第六届全体会议暨脑机接口国际研讨会在韩国举行我国代表团取得积极成果  

出　　处：《信息技术与标准化》2025年第4期90-90,共1页Information Technology & Standardization

摘　　要：3月3-6日,国际标准化组织/国际电工委员会下设第一联合技术委员会脑机接口分技术委员会(ISO/IEC JTC1/SC43)第六届全体会议在韩国城南市成功举行。来自中国、澳大利亚、韩国、美国、印度、日本、英国、俄罗斯、德国、芬兰共10个国家的50余名专家参会。此次全会,中国代表团由来自中国电子技术标准化研究院、浙江大学、天津大学、中国医学科学院生物医学工程研究所、华南师范大学等单位的25名专家组成,浙江大学脑机智能全国重点实验室主任潘纲教授任代表团团长。韩国嘉泉大学副校长Won S.Suh出席全会并致辞。全会由ISO/IEC JTC1/SC43主席、中国电子技术标准化研究院技术总监余云涛主持。

关 键 词：全体会议 脑机接口 ISOIEC JTC1SC43 

分 类 号：F203[经济管理—国民经济]