纵波双晶直探头在薄壁管道夹层缺陷时的应用  

Application of Longitudinal Wave Bicrystal Straight Probes to Delamination Defects in Thin-Walled Pipes

作　　者：蒋浩 汪四新 欧宇星 祝进 陈议橙 

机构地区：[1]乐山市特种设备监督检验所,乐山614000

出　　处：《石油和化工设备》2025年第4期171-174,共4页Petro & Chemical Equipment

摘　　要：工业管道定期检验经常遇到弯头壁厚异常缺陷,针对某弯头壁厚测量数值异常结合埋藏缺陷检验,发现纵波双晶直探头能很好区分薄壁管道内部夹层缺陷导致的壁厚数值异常,有效避免误判,提高检验安全状况等级评定的准确性。

关 键 词：工业管道 壁厚异常 纵波双晶直探头 

分 类 号：TE973.6[石油与天然气工程—石油机械设备]