一种基于同轴谐振腔技术的非金属缺陷测量方法  

作　　者：徐宇 杨晓庆[1] 尚劲松 XU Yu;YANG Xiaoqing;SHANG Jinsong

机构地区：[1]四川大学,四川成都610021

出　　处：《信息技术与信息化》2025年第4期197-200,共4页Information Technology and Informatization

摘　　要：随着航空航天领域对非金属复合材料构件质量要求的不断提升,准确检测其内部缺陷对保障飞行安全与设备可靠性意义重大。为解决现有检测方法在分辨率和灵敏度上的不足,文章设计了一种新型的微波同轴谐振腔传感器,用于测量非金属缺陷,该复合材料广泛应用于航空航天。根据近场微波测试原理搭建了一套近场微波扫描系统,提出一种基于谐振频率偏移的提离距离测试方法,通过电磁仿真软件建模、实验加工与测试,对λ/4同轴谐振腔进行了综合研究。采用S参数测量技术,对谐振腔的振频点S11幅值及频率进行了精确测量,从而获得了覆盖非金属薄膜的裂纹缺陷的微波扫描图像,实现了0.01λ的超分辨率成像效果。

关 键 词：亚表面缺陷 非金属缺陷 超分辨率成像 近场微波扫描系统 微波同轴谐振传感器 

分 类 号：V250.2[一般工业技术—材料科学与工程]