自旋极化扫描隧道显微术  

SPIN-POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY

作　　者：潘明虎[1] 薛其坤[2] 

机构地区：[1]中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室 [2]中国科学院国际量子结构中心,北京100080

出　　处：《物理》2002年第12期800-804,共5页Physics

基　　金：国家自然科学基金 (批准号 :60 0 2 14 0 3 10 13 40 3 0 60 12 840 4);科技部"九七三"计划 (批准号 :G0 0 1CB3 0 95 )资助项目

摘　　要：自旋极化扫描隧道显微术是一种新兴的表面自旋分辨技术 .文章主要介绍了自旋极化的扫描隧道显微镜和扫描隧道谱实现表面自旋分辨的原理以及在各种磁性表面研究中的应用 .采用自旋极化技术的扫描隧道显微镜可以测量表面磁结构 ,其空间分辨可以达到原子尺度 ,分辨率超过其他磁显微技术 .而自旋极化扫描隧道谱不但可以分辨空间精细磁畴结构 ,而且能研究表面态的交换劈裂 .文章作者还进一步提出了利用自旋极化扫描隧道显微镜实现自旋注入的设想 .Potential appliations of spin polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy(SP STM/S) are described. We show that SP STM enables us to measure surface magnetic structure with atomic resolution and is much more sensitive than other magnetic microscopy techniques, while SP STS allows spatially resolved mapping of domain structures and reveals the exchange split surface states of many kinds of surfaces. Furthermore,SP STM/S can be applied to study spin injection into semiconductors.

关 键 词：自旋极化扫描隧道显微术 表面磁结构 交换劈裂 表面态 隧道谱 

分 类 号：TH742.9[机械工程—光学工程]