用二次电子线扫描法研究冲击断口的分形特点  

作　　者：胡小波 周善民 

出　　处：《电子显微学报》1992年第5期413-414,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：一、前言自从Mandelbrot提出分形理论以来,分形已应用于金属断裂表面的定量分析,分形维数是金属断裂表面粗糙度的一种量度。根据最近的研究,确定分形维数的方法有以下几种:(1)切割小岛法;(2)垂直剖面法;(3)二次电子线扫描法。Huang等认为,二次电子产额对样品表面形状非常敏感,而与样品的原子序数无关。因此二次电子扫描线的像可以间接地反映断口表面的线粗糙度,并可用于分形研究。本文用二次电子线扫描法研究45号钢冲击断口的分形维数,以探索金属材料断口分形维数与韧性之间的对应关系。

关 键 词：金属 断裂 定量分析 冲击断口 扫描 

分 类 号：TG111.91[金属学及工艺—物理冶金]