原子力显微镜测定力-距离曲线的原理和应用  

Principles of Force-distance Curve Determination by Atomic Force Microscopy

作　　者：华杰[1] 徐盛明[1] 徐景明[1] 朱国才[1] 池汝安[1] 时文中[1] 

机构地区：[1]清华大学核能技术研究院

出　　处：《金属矿山》2003年第1期25-30,共6页Metal Mine

基　　金：国家自然科学基金 (5 0 0 740 2 0 );国家杰出青年基金 (5 972 5 40 8);清华大学骨干人才基金;清华大学实验室基金资助项目

摘　　要：介绍了用原子力显微镜测定力 -距离曲线的基本原理以及应用于力 -距离曲线的接触区和非接触区分析的基本理论。讨论了用AFM力 -距离曲线测定范德华力、双电层力及非DLVO力 ,并对AFM力The basic principles fer force-distance curve determination by atomic force microscopy and the basic theories concerning both the contact and non-contact regions of force-distance curves are presented. The determination of Van der Waals, double layer and non-DLVO forces by AFM force-distance curves is discussed and the application of these curves in other fields reviewed and prospected.

关 键 词：原子力显微镜 范德华力 双电层力 非DLVO力 水合力 范德华力 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]