北京同步辐射实验室X光形貌学研究的光源特性及实验应用  

Light Source for Synchrotron Radiation X-Ray Topography Study at Beijing Syncrotron Radiation Laboratory (BSRL)

作　　者：赵际勇 杨平[2] 蒋建华[1] 田玉莲[1] 韩勇[1] 王春喜 石才土[1] 冼鼎昌[1] 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所,北京100039 [2]南京大学固体微结构实验室,南京210008

出　　处：《高能物理与核物理》1992年第8期679-684,共6页High Energy Physics and Nuclear Physics

摘　　要：本文讨论了北京同步辐射实验室X光形貌站相应的光源特性,给出了在该状态下的形貌分辨率以及对四硼酸锂晶体白光形貌衍射强度的计算结果。Characteristics of the synchrotron radiation source for X-ray topography study at Beijing Synchrotron Radiation Laboratory (BSRL) is described in this paper, local geometrical resolution of topographs is discussed, the diffracting intensities of white beam topography is given.

关 键 词：同步辐射 X光形貌学 光源特性 BEPC 

分 类 号：O572.214[理学—粒子物理与原子核物理]