孔径时间不确定性与锁定直方图试验  

Aperture Uncertainty and Locked Histogram Test

作　　者：管喜康[1] 

机构地区：[1]上海交通大学,200030

出　　处：《高压电器》1992年第4期36-41,共6页High Voltage Apparatus

摘　　要：孔径时间不确定性是影响快速波形记录仪动态性能的重要参数,叙述了快速信号在采样/保持器中的电气过程,介绍了如何用锁定直方图的方法测定孔径时间不确定性,讨论了采样时间间隔不确定性和孔径时间不确定性的异同。The dynamic performance of fast digital waveform recorders is influenced by an important parameter-aperture uncertainty. The electrical Process in sample/hold circuit and the locked histogram test used to estimate aperture uncertainty are included. The difference between sampling interva uncertainty and aperture uncertainty in digital recorders is discussed.

关 键 词：波形记录仪 孔径时间 锁定有方图 

分 类 号：TM564.06[电气工程—电器]