附加斜面法用于三维物体面形计算  

作　　者：吴平凡[1] 余飞鸿[1] 李正民[1] 孙扬远 

机构地区：[1]杭州浙江大学光仪系,310027

出　　处：《光电子．激光》1992年第6期328-332,共5页Journal of Optoelectronics·Laser

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比,本文采用的方法具有数据处理量小、速度快、精度高等特点。

关 键 词：三维物体 测量 计算 结构光法 

分 类 号：TH74[机械工程—光学工程]