光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性  

STUDY ON PHOTOTHERMALLY DECAYED PROPERTY OF SAMPLE CONCENTRATION IN THIN-LAYER WITH PHOTOTHERMAL DEFLECTION SPECTROSCOPY TECHNIQUE

作　　者：王松岳[1] 金巨广[1] 孙孝忠[1] 王秀兰[1] 

机构地区：[1]中国科学院长春应用化学研究所,长春130022

出　　处：《光谱学与光谱分析》1992年第5期7-9,共3页Spectroscopy and Spectral Analysis

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：本文报道了以品红和结晶紫样品,研究了光热偏转信号随激发光束照射时间变化的规律,同时探讨了这一方法新应用的可能性。The change of magenta and crystal violet sample concentrations relating to exalting fight illuminating time ham been found by means of photothermal deflection spectroscopy technique. The possibility of new application of the method in this work was approached.

关 键 词：光热偏转光谱 薄层色谱 光热衰减 

分 类 号：O657.7[理学—分析化学]