通信类SoC测试方案——Base Band  

作　　者：徐勇 魏炜 川端雅之 小圆祐一 浅见幸司 

机构地区：[1]ADVANTEST,ADVANTEST,ADVANTEST,ADVANTEST,ADVANTEST

出　　处：《半导体技术》2003年第3期43-46,共4页Semiconductor Technology

摘　　要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD)、以及超高速任意波形发生器(GSAWG)上的所实现了的结构和新近采用的技术。另外,这里也说明了关于利用这些技术进行测试的例子。

关 键 词：SOC测试 BASEBAND 任意波形发生器 波形数字转换器 无线通信芯片 

分 类 号：TN929.5[电子电信—通信与信息系统] TN407[电子电信—信息与通信工程]