SoC测试的发展趋势及挑战——安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案  

作　　者：杨广宇 

机构地区：[1]安捷伦科技

出　　处：《半导体技术》2003年第3期48-50,共3页Semiconductor Technology

关 键 词：SOC测试 发展趋势 93000SoC测试系统 安捷伦科技公司 共时测试 混合信号测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]