200MeV电子试验束的概念设计  

A conception design of 200MeV electron test beam

作　　者：田燕波[1] 李澄[1] 伍健[1] 许咨宗[1] 汪兆民[1] 汪晓莲[1] 陈宏芳[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学近代物理系,安徽合肥230027

出　　处：《核电子学与探测技术》2003年第2期121-123,共3页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：国家自然科学基金59932002资助;211基地建设经费部分资助

摘　　要：研究了通过电子与原子核的弹性散射实现每脉冲少电子的试验束方案。测量和分析了由于电子和原子核散射产生的辐射背景。A feasibility study on a test beam line of the secondary electrons is presented. A few electrons per pulse is able to be obtained by means of the primary 200MeV electron beam from LINAC scattered from the wire target (tungsten).The radiation background at the experimental hall is measured and analyzed.

关 键 词：试验束 辐射背景 电子束 

分 类 号：O572.212[理学—粒子物理与原子核物理]