正常金属-薄绝缘层-超导体结δ势的Andreev反射特性研究  

作　　者：胡迅 

机构地区：[1]华南师范大学

出　　处：《科学中国人》2015年第1X期70-71,共2页Scientific Chinese

摘　　要：Andreev反射是是金属—薄绝缘层—超导结的一种隧道效应现象,是结界面上电子的反射和透射规律。设定结界面势垒为理想δ势,利用Bd G方程求解出粒子的波函数,并作出各项散射系数随着电子入射动能改变的关系曲线,以及测出界面的微分电导特性曲线.最后根据所得的理论结果,分析粒子在结界面产生的现象。

关 键 词：ANDREEV反射 δ势理想界面 超导准粒子 微分电导 

分 类 号：O511.4[理学—低温物理]