利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨  

作　　者：牟其善[1] 张杰[2] 官文栎[3] 彭祖建[3] 李可[3] 胡秀琴[3] 刘希玲[3] 路庆明[3] 马长勤[3] 王 

机构地区：[1]山东大学化学院，济南250100 [2]山东教育学院数理系,济南250013 [3]中国科学院高能物理研究所，北京100039

出　　处：《Beijing Synchrotron Radiation Facility》2001年第2期145-148,共4页北京同步辐射装置（英文版）

摘　　要：利用同步辐射X射线形貌术研究晶体缺陷．是近年来发展起来的一种优良的实验方法．本文在研究LNP等晶体缺陷的同时，对这种实验方法进行了系统的探讨，讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题．以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据．

关 键 词：同步辐射形貌术 晶体缺陷 实验方法 散射光 X射线衍射分析 劳厄斑点 

分 类 号：O77[理学—晶体学] O722