基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究  

The Test Method Research Based on Boundary-scan Technique for Embedded Microprocessor

作　　者：王让定[1] 杜呈透[1] 叶富乐[1] 

机构地区：[1]宁波大学信息科学与工程学院,宁波315211

出　　处：《计算机工程与应用》2003年第7期111-113,152,共4页Computer Engineering and Applications

摘　　要：现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。This paper presents test method of inside functions for Intel80386microprocessor,and designs test system architecture based on boundary-scan technique,and implements inside function unit's test.The experiment's results testfy feasibility of this test method.

关 键 词：微处理器 嵌入式处理器 边界扫描技术 测试方法 计算机 JTAG规范 逻辑电路 

分 类 号：TP332[自动化与计算机技术—计算机系统结构]