一等环规测量仪的研制  

Development of Grade 1 Ring Gauge Measuring Instrument

作　　者：熊昌友[1] 何学军[1] 孙玉玖[1] 任冬梅[1] 何英[1] 李华丰[1] 张家远[1] 

机构地区：[1]中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所,北京100095

出　　处：《航空计测技术》2003年第2期14-15,27,共3页Aviation Metrology & Measurement Technology

摘　　要：一等环规测量仪是将激光干涉仪测长技术、静态光电显微镜瞄准技术和精密微位移定位技术 作为主体测量技术,以上三项技术的有机结合使该仪器的测量不确定度达到了国际法制计量组织 (OIML)规定的一等环规的测量要求。The grade 1 ring gauge measuring instrument is such a measuring technology taking the laser interferometer, static state photoelectric microscope and precision micro-displacement measuring device as the main technologies. The organic combination of the above three technologies makes the uncertainty of this instrument meet the measuring requirements of the grade 1 ring gauge regulated by the OIML.

关 键 词：一等环规测量仪 测量不确定度 光电显微镜瞄准技术 激光干涉仪测长技术 精密微位移定位技术 

分 类 号：TH711[机械工程—测试计量技术及仪器]