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作 者:张穗萌[1]
出 处:《原子与分子物理学报》2003年第2期247-251,共5页Journal of Atomic and Molecular Physics
基 金:安徽省自然科学基金 (批准号 :0 3 0 462 0 3 ) ;安徽省重点科研项目基金(批准号 :0 0 0 2 10 91);安徽省高校学科拔尖人才专项基金(批准号 :[2 0 0 3 ] 0 2 2 )资助的课题
摘 要:在Chen等人工作 ( 2 0 0 1,Chin .Phys .10 2 90 )的基础上 ,进一步对 (e ,2e)反应的末态He+中核外电子的有效屏蔽给出修正。并用修正后的索末菲参量计算了入射能为 4 0eV时 ,共面不对称几何条件下电子离化He原子的三重微分截面。所得结果与其它理论结果及最新绝对测量的实验数据进行比较发现Following the work of Chen, et al. (2001, Chin. Phys. 10 290), the effective shield of residual electron in the final state of He + is further modified for (e,2e) processes. The triple differential cross sections for electron impact ionization of atomid helium at incident energy of 40 eV in asymmetric geometry are calculated by use of the modified Sommerfeld parameters. The results of the present are compared with the absolute measurements and those of other theoretical models. It was found that the present results give a better description for the experimental data.
关 键 词:氦原子 (E 2E)反应 末通道屏蔽效应 三重微分截面 HE原子 电子离化 有效电荷 电离 电子碰撞
分 类 号:O562.4[理学—原子与分子物理] O562.5[理学—物理]
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