一种测量残余应力沿表面层深度分布的有效方法  

作　　者：杨怡生 石连捷[2] 

机构地区：[1]南京航空学院 [2]华东工学院

出　　处：《航空工艺技术》1992年第4期46-47,共2页Aeronautical Manufacturing Technology

摘　　要：本文介绍了利用X射线衍射测量残余应力沿表面层深度分布的一种方法。此方法可用于测量各种表面强化工艺或材料去除工艺所产生的残余应力沿层深的分布规律,其测量结果与剥层法基本一致。

关 键 词：残余应力 深度分布 测量 

分 类 号：TG115.57[金属学及工艺—物理冶金]