取样光纤光栅制作及其温度和应力特性测试  

作　　者：卓仲畅[1] 于永森[1] 赵志勇[1] 翟与峰[1] 陈斌[1] 张健[1] 钱颖[1] 郑伟[1] 张玉书[1] 

机构地区：[1]吉林大学电子科学与工程学院，长春130023

出　　处：《光子学报》2002年第0Z2期48-50,共3页Acta Photonica Sinica

摘　　要：用长周期振幅掩模板（周期为500μm）和相位掩模板（周期为1.0739μm）采用曝光法，制作出了1.5cm长的取样光纤光栅。并测试了光纤光栅的温度和应力特性，发现光纤栅的反射波长随温度的升高，向长波方向漂移，三个主峰波长随温度的变化规律是相同的，温度漂移系数约为0.01nm/℃，温度变化并不会引起通道间隔的变化，波长与应力有非常好的线性关系，并且三个主峰波长随应力的变化关系是一臻的。因此，我们也可以采用与Bragg光纤光栅相同的应力补偿式封装或采用负温度系数的衬底材料来补偿中心波长随温度的漂移。

关 键 词：取样光纤光栅 温度 应力 性能测试 长周期振幅掩模板 相位掩模板 曝光法 制作 

分 类 号：TN25[电子电信—物理电子学]