高频红外碳硫仪快速测定金属硅中的碳和硫  

Rapid Determination of Carbon and Micro Sulfur in Silicon by High Frequency Infrared Carbon/Sulfur Detector

作　　者：傅明[1] 黄志强[1] 杨万彪[1] 胡宇东[1] 

机构地区：[1]湖南出入境检验检疫局,长沙410007

出　　处：《分析科学学报》2003年第2期199-200,共2页Journal of Analytical Science

摘　　要：应用 LECO CS-444红外碳硫仪 ,建立了金属硅中微量碳和硫的测定方法 ,对助熔剂的选择和用量、空白的控制和称样量等条件进行了探讨 ,在最佳条件下测定 。

关 键 词：高频红外碳硫仪 快速测定 金属硅 碳 硫 微量分析 

分 类 号：TQ127.2[化学工程—无机化工]