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出 处:《光谱仪器与分析》2002年第3期35-37,共3页
摘 要:本文介绍了红外附件-OMNI采样器的应用,如对纤维与纺织品面料、易吸潮样品、复合材料、微量样品、颗粒状或形状不规则的固体样品,玻璃及其它硬质基体上的涂层等的直接测试,得到的红外谱图信噪比好、灵敏度高,经ATR校正后的谱图与红外标很谱图有很好的匹配度。传统的红外光谱分析方法对一些特殊样品,如不可破坏的、表层及不可处理和微量的样品很难直接测定,采用美国Nicolet单点衰减全反射OMNI采样器可以方便地解决上述问题。这种采样器用一个球形的极为坚固的锗晶体作为一个采样表面,通过压力塔对样品提供一个点对点的接触,压力塔上有压力保护装置,防止在操作时因压力过大而损坏晶体。压力塔上还有一个显微观察器可以使小样品方便精确定位。OMNI采样器测试范围4000—675cm^-1,穿透样品的深度在2000cm^1处大约0.67μm,适合pH范围l—14,是一个很好的通用的红外附件。
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