IDS缺陷探讨  

Approaching on IDS defect

作　　者：匡平[1] 卢延诗[1] 马毅[1] 

机构地区：[1]电子科技大学机械电子工程学院,成都610054

出　　处：《中国测试技术》2003年第1期58-60,共3页CHINA MEASUREMENT & TESTING TECHNOLOGY

摘　　要：以现有的IDS技术模型和实现技术为切入点 ,对IDS产品的缺陷进行了深入的讨论 ,提出了改善现有IDS缺陷的若干策略。

关 键 词：计算机网络 IDS 入侵检测系统 技术缺陷 自动反应 

分 类 号：TP393.08[自动化与计算机技术—计算机应用技术]