检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]浙江大学机械系,杭州310027
出 处:《计量学报》1992年第4期241-244,共4页Acta Metrologica Sinica
基 金:国家自然科学基金
摘 要:通过对几种表面粗糙度幅值分布参数采用模式识别的方法进行比较,认为偏斜度R_k在识别表面轮廓粗糙度幅值分布特征方面具有重要意义,其识别能力不低于Bata分布参数,从而为产品设计和摩擦学研究中的表面粗糙度参数的选择、轮廓仪的设计提供有价值的参考意见。Several parameters about surface roughness amplitude distributionare compared by the method of pattern recognition in this paper.The skewness Rik is an important value for identifying roughness amplitude distribution properties.Its capability of identifying is better than the Bata distribution parameters.All of these will provide a valuable reference for the selection of the surface roughness parameters in the product design and tribology study,and for the design of profilometer.
分 类 号:TG84[金属学及工艺—公差测量技术]
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