Kevex SIGMA^TM定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用  

作　　者：孔明光[1] 

机构地区：[1]中国科学院固体物理所，合肥，230031

出　　处：《电脑应用技术》2003年第56期33-36,共4页Microcomputer Application Technology

摘　　要：本文介绍了X—Ray能谱定性分析的原理，并结合Kevex SIGMA系统，详细介绍了定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用。

关 键 词：电子光学仪器 KevexSIGMA^TM 定性X-Ray显微分析工具 SDP 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]