大型紧缩场电气性能检测  

Electrical Performance Testing for Large Compact Range

作　　者：全绍辉[1] 何国瑜[1] 徐永斌[1] 董宇亮[1] 

机构地区：[1]北京航空航天大学电子工程系,北京100083

出　　处：《微波学报》2003年第2期77-80,共4页Journal of Microwaves

摘　　要：介绍了大型紧缩场电气性能检测的原理、系统和方法 ,解决了其中的关键技术问题 ,对紧缩场系统的后期应用 ,如天线测试、RCS测试等 ,有重要参考和借鉴意义。The principle, system and method for electrical performance testing of large Compact Range (CR) are presented. Key technical problems of it are solved. It provides references for subsequent applications of CR, such as antenna measurement, RCS measurement, etc.

关 键 词：紧缩场 电气性能检测 天线测试 RCS测试 微波接收机 微波幅相测试系统 

分 类 号：TP274.4[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]