用面阵CCD高精度测量微光光场均匀性  

Measuring uniformity of optical field of dim light by using area CCD high accurately

作　　者：赵熙林[1] 刘炳琦[1] 韩彦中[1] 

机构地区：[1]军械工程学院,石家庄050003

出　　处：《中国测试技术》2003年第2期20-21,共2页CHINA MEASUREMENT & TESTING TECHNOLOGY

摘　　要：利用高分辨率面阵CCD ,提出一种新的测量微光光场均匀性的方法 ,同时对影响系统精度的因素进行了分析 ,并通过计算机处理软件给出矫正补偿措施 ,使面阵CCD高精度测量技术成功地用于实践。

关 键 词：面阵CCD 光场均匀性 高精度测量 软件矫正补偿 电荷耦合器件 

分 类 号：TU113.2[建筑科学—建筑理论] TN386.5[电子电信—物理电子学]